德國Mahr 馬爾 MarSurf WI 50 表面的三維測量和分析 無接觸

靈活的測量解決方案
MarSurf WI 50 是一臺強大的表面分析儀，用于表面的三維測量和分析 - 無接觸，與材料無關，而且速度快. 
靈活的測量解決方案

MarSurf CMexplorer有堅固的結構且對環(huán)境波動不敏感，所以適合測試實驗室和生產(chǎn)環(huán)境中的質(zhì)量保證測量。

典型測量任務
粗糙度測量符合
ISO 4287 & ISO 13565 / ISO 25178
表面特征輪廓測量（包括體積、磨損、摩擦學）
輪廓和形狀 (2D, 3D)
孔，顆粒分析
缺陷檢測...
數(shù)據(jù)質(zhì)量
我們最重要的標準之一，即優(yōu)異的精度、準確性、可再現(xiàn)性和文檔記錄，保證可追溯性和可審核性。我們?yōu)榭蛻籼峁┑姆站褪翘峁┠軌蚩煽康赜糜诠こ獭a(chǎn)品、過程設計和質(zhì)量控制領域的定量測量值。

MarSurf WI 50
分辨率	0.2 (nm) 垂直
測量速度	140 fps
測量原理	白光干涉 高性能 LED (650 nm / white)
其他	xyz 方向碰撞檢測
電源	100 - 240 V
表面參數(shù)	ISO 4287、ISO 13565、ISO 25178…

準確，可重復的測量
您的測量數(shù)據(jù)將可靠地記錄、可以復制，并確保原始數(shù)據(jù)和輪廓精度有的質(zhì)量。

可測的工件范圍廣泛
測量不受材料影響，不管幾何形狀和表面特性是反射性、吸收性、不透明還是透明，都能進行測量。

直觀的操作
簡單的用戶引導界面，所有重要測量參數(shù)都有自動模式，包括對已知表面使用測量方案。

我們產(chǎn)品的各種應用
機械制造 
鑒定和量化粗糙度、幾何形狀和磨損體積 

電子系統(tǒng)和半導體 
亞納米級組件檢測，保證產(chǎn)品無故障 

醫(yī)療技術 
生產(chǎn)和實驗室中醫(yī)療表面的質(zhì)量保證 

材料科學 
新產(chǎn)品表面的功能性特征優(yōu)化 
 
微系統(tǒng)技術 
以納米級精度測量最小組件的復雜表面幾何形狀