德國(guó)Mahr 馬爾 MarSurf WI 50 表面的三維測(cè)量和分析 無(wú)接觸

靈活的測(cè)量解決方案
MarSurf WI 50 是一臺(tái)強(qiáng)大的表面分析儀，用于表面的三維測(cè)量和分析 - 無(wú)接觸，與材料無(wú)關(guān)，而且速度快. 
靈活的測(cè)量解決方案

MarSurf CMexplorer有堅(jiān)固的結(jié)構(gòu)且對(duì)環(huán)境波動(dòng)不敏感，所以適合測(cè)試實(shí)驗(yàn)室和生產(chǎn)環(huán)境中的質(zhì)量保證測(cè)量。

典型測(cè)量任務(wù)
粗糙度測(cè)量符合
ISO 4287 & ISO 13565 / ISO 25178
表面特征輪廓測(cè)量（包括體積、磨損、摩擦學(xué)）
輪廓和形狀 (2D, 3D)
孔，顆粒分析
缺陷檢測(cè)...
數(shù)據(jù)質(zhì)量
我們最重要的標(biāo)準(zhǔn)之一，即優(yōu)異的精度、準(zhǔn)確性、可再現(xiàn)性和文檔記錄，保證可追溯性和可審核性。我們?yōu)榭蛻?hù)提供的服務(wù)就是提供能夠可靠地用于工程、產(chǎn)品、過(guò)程設(shè)計(jì)和質(zhì)量控制領(lǐng)域的定量測(cè)量值。

MarSurf WI 50
分辨率	0.2 (nm) 垂直
測(cè)量速度	140 fps
測(cè)量原理	白光干涉 高性能 LED (650 nm / white)
其他	xyz 方向碰撞檢測(cè)
電源	100 - 240 V
表面參數(shù)	ISO 4287、ISO 13565、ISO 25178…

準(zhǔn)確，可重復(fù)的測(cè)量
您的測(cè)量數(shù)據(jù)將可靠地記錄、可以復(fù)制，并確保原始數(shù)據(jù)和輪廓精度有的質(zhì)量。

可測(cè)的工件范圍廣泛
測(cè)量不受材料影響，不管幾何形狀和表面特性是反射性、吸收性、不透明還是透明，都能進(jìn)行測(cè)量。

直觀的操作
簡(jiǎn)單的用戶(hù)引導(dǎo)界面，所有重要測(cè)量參數(shù)都有自動(dòng)模式，包括對(duì)已知表面使用測(cè)量方案。

我們產(chǎn)品的各種應(yīng)用
機(jī)械制造 
鑒定和量化粗糙度、幾何形狀和磨損體積 

電子系統(tǒng)和半導(dǎo)體 
亞納米級(jí)組件檢測(cè)，保證產(chǎn)品無(wú)故障 

醫(yī)療技術(shù) 
生產(chǎn)和實(shí)驗(yàn)室中醫(yī)療表面的質(zhì)量保證 

材料科學(xué) 
新產(chǎn)品表面的功能性特征優(yōu)化 
 
微系統(tǒng)技術(shù) 
以納米級(jí)精度測(cè)量最小組件的復(fù)雜表面幾何形狀