德國Mahr 馬爾 MarOpto FI 1040 Z 干涉儀
強大的 Fizeau 干涉儀.
最小的測量不確定度和優異的靈活性及多功能性
非接觸形狀和軸前測量
MarOpto FI 1040 Z 是一款功能強大的緊湊型干涉儀，孔徑 40 mm，可以提供平面和球面以及波陣面非接觸測量。
可以通過簡單的干涉條紋檢測、IntelliPhase 靜態空間載波分析或標準相位盤來執行測量。MarOpto FI 1040 Z 可提供現在的工業應用需要的靈活性和優異的性能。除表面測試光學組件外，還可以測量曲率和波陣面的半徑。
尺寸小，方便集成到 OEM 系統。因此能夠以極高的實現準確的測量。干涉儀可用于水平和垂直方向。
我們產品的各種應用
小型光學元件的透射和表面測試
光學元件、車工零件、陶瓷、半導體和晶圓的測量
集成曲率半徑測量