兩面觀察測量顯微鏡產品介紹
兩面觀察測量顯微鏡
品牌:日本UNION
型號：DCM-40/60
DCM-40/60是一款設計*的顯微鏡，可分別或同時觀察物體的表面和底面圖像，并對兩圖像進行比較，還可以通過測量裝置測量兩圖像（表面和底面）的偏差。可選的物鏡有五種，放大倍率從50X~100X。測量精度可達1μm。
DCM-40/60主要應用于微電子行業，特別是在半導體行業。產品上下面尺寸有偏移時就可以直接對比測量，減少其它間接測量方式的誤差且不會損壞產品。例如：晶圓劃片基準印字偏移，柔性線路板線路間距，陶瓷電容片切割對位和IC框架邊緣質量等應用。
規格：
|
型號
|
DCM-40
|
DCM-60
|
|
物鏡
|
5X, 10X, 20X ,40x, 100X
|
5X, 10X, 20X ,40x, 100X
|
|
工作臺
|
50X50mm ~100X100mm
|
150X150mm
|
|
光源
|
150W鹵素燈2套
|
150W鹵素燈2套
|
|
工件厚度
|
20mm
|
30mm
|
|
選配件
|
照相系統、TV系統
|
測量步驟：
1.將"光路選擇開關"旋轉到"Top& Bottom"位置，調整上、下物體的光軸至重合。
2.將工件置于工作臺上。旋轉"光路選擇開關"到"Top" 位置，對焦上表面. .
3.旋轉“光路選擇開關"到"Bottom" 位置， 對焦下表面。.
4.將“光路選擇開關"旋轉到"Top &Bottom"位置，測量兩圖像的位置偏差。
設備：
