MarSurf M 400.較好的移動設備
測量室以及生產領域都越來越需要無導塊掃描的表面評估。
這通常需要更熟練的操作員，更多時間和更多調整工作。
MarSurf M 400 在“移動表面度量"范圍內提供了必要的功能，而且快速、簡單易用。
移動和固定測量儀器
粗糙度和波紋度測量
掃描長度高達 26 mm
超過 50 R，W 和 P 表面參數
根據標準自動選擇截止和掃描長度
動態校準功能
驅動裝置和評估儀器之間可選有線和藍牙連接 (4 m)
磁性測頭支架（獨立測頭）BFW 250
機動測頭歸零設置（ 7.5 mm）
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測量原則
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探針法
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輸入
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感應式滑動測頭
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測量范圍 mm
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BFW 無導塊系統
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輪廓分辨率
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測量范圍 +/- 250 μm：8 nm
測量范圍 +/- 25 μm：0.8 nm
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過濾器符合 ISO/JIS 標準
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ISO 11562 標準高斯濾波
ISO 13565 標準濾波
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采樣長度數量符合 ISO/JIS
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1-5
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接觸速度
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0,2 mm/s; 1,0 mm/s
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測量力 (N)
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0.75 mN
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重量驅動單元
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約 0.9 kg
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重量測量儀
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約 1.0 kg
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表面參數
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超過 50 種符合當前 ISO / JIS 或 MOTIF (ISO 12085) 標準的表面參數可用于 R-、P- 和 W
輪廓
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可選附件
測量立柱：ST-D、ST-F 和 ST-G，測量立柱上的支架
其他附件：CT 120 XY 工作臺，平行虎鉗，V 形塊，用于帶 BFW 測頭系統的測桿