MarSurf CM select 是強大的可配置型共聚焦顯微鏡，用于表面的三維測量和分析 – 非接觸，與材料無關，而且速度快. 

典型測量任務

粗糙度測量符合 

ISO 4287 & ISO 13565 / ISO 25178

表面特征輪廓測量（包括體積、磨損、摩擦學）

輪廓和形狀 (2D, 3D)

孔，顆粒分析

缺陷檢測

根據應用調整的測量解決方案

作為一個多傳感器系統，MarSurf CM select 將多種傳感器技術結合到了一個測量設備中。也可以根據測量任務選擇的點傳感器。MarSurf CM select 可以滿足您對樣品尺寸、自動化、測量舒適度和準確性的個性化要求 - 甚至全自動的測量解決方案。

數據質量

我們最重要的標準之一，即優異的精度、準確性、可再現性和文檔記錄，保證可追溯性和可審核性。我們為客戶提供的服務就是提供能夠可靠地用于工程、產品、工藝設計和質量控制領域的定量測量值。