MarSurf CM select 是強大的可配置型共聚焦顯微鏡，用于表面的三維測量和分析 – 非接觸，與材料無關(guān)，而且速度快.
典型測量任務(wù)
粗糙度測量符合
ISO 4287 & ISO 13565 / ISO 25178
表面特征輪廓測量（包括體積、磨損、摩擦學(xué)）
輪廓和形狀 (2D, 3D)
孔，顆粒分析
缺陷檢測
根據(jù)應(yīng)用調(diào)整的測量解決方案
作為一個多傳感器系統(tǒng)，MarSurf CM select 將多種傳感器技術(shù)結(jié)合到了一個測量設(shè)備中。也可以根據(jù)測量任務(wù)選擇的點傳感器。MarSurf CM select 可以滿足您對樣品尺寸、自動化、測量舒適度和準(zhǔn)確性的個性化要求 - 甚至全自動的測量解決方案。
數(shù)據(jù)質(zhì)量
我們最重要的標(biāo)準(zhǔn)之一，即優(yōu)異的精度、準(zhǔn)確性、可再現(xiàn)性和文檔記錄，保證可追溯性和可審核性。我們?yōu)榭蛻籼峁┑姆?wù)就是提供能夠可靠地用于工程、產(chǎn)品、工藝設(shè)計和質(zhì)量控制領(lǐng)域的定量測量值。
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MarSurf CM select
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分辨率
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可達 2 (nm) 垂直
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測量速度
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100fps
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工件重量 (kg)
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15 kg
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測量原理
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共聚焦
高性能 LED（505 nm / 白）
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語言
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德語 , 英語 , 法語 , 意大利語 , 西班牙語 , 葡萄牙語 , 波蘭語 , 俄語 , 土耳其語 , 中文 , 日語 , 韓語
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其他
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xyz 方向碰撞檢測
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電源
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100 - 240 V
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表面參數(shù)
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ISO 4287, ISO 13565, ISO 25178,
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我們產(chǎn)品的各種應(yīng)用
機械工程
鑒定和量化粗糙度、幾何形狀和磨損量
電子和半導(dǎo)體
亞微米級的組件檢測，確保產(chǎn)品無缺陷
醫(yī)療技術(shù)
生產(chǎn)和實驗室中醫(yī)療表面的質(zhì)量保證
材料科學(xué)
新表面和產(chǎn)品的功能屬性的優(yōu)化
微系統(tǒng)技術(shù)
以納米級精度測量最小組件的復(fù)雜表面幾何形狀
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