長形平板探測器
6543是一款高性能的動態平板探測器，具有高圖像質量、高動態范圍、高幀率等好品質。
探測器包含多種binning和FOV的工作模式選擇。探測器可以滿足多種應用場合的要求，包括CBCT、
檢測造影、工業探傷等。提供完善同步信號和SDK，方便和高壓發生器等X光系統內的其他部件集成。
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描述
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參數
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探測器類別
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非晶硅
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閃爍體
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CsI
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圖像尺寸(mm)
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640.5×427
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像素矩陣
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4608×3072
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像素間距(um)
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139
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A/D轉換(bits)
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16
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最小探測劑量(nGy)
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14
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線性劑量(uGy, RQA5).
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110
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調制傳遞函數@ 1.0 LP/mm
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0.60/0.65/-
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調制傳遞函數@ 2.0 LP/mm
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0.30/0.33/-
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調制傳遞函數@ 3.0 LP/mm
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0.15/0.18/-
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量子探測效率@ 0.0 LP/mm (2.5uGy)
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0.62/0.66/-
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量子探測效率@ 1.0 LP/mm (2.5uGy)
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0.43/0.45/-
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0.30/0.32/-
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量子探測效率@ 3.0 LP/mm (2.5uGy)
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0.13/0.15/-
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幀率（1x1, fps）
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3
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幀率（2x2, fps）
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12
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幀率（3x3, fps）
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30
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幀率（6x6, fps）
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60
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殘影(%, 300uGy, 60s)
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-/0.10/0.25
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空間分辨率(LP/mm)
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3.6/3.6/-
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X-射線工作范圍(kV)
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40/-/150
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數據接口
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千兆以太網
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功率(W)
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15
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交流電源(V)
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100/-/240 AC
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交流電源頻率(Hz)
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50/-/60
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適配器輸出電壓(V)
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24 DC
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探測器尺寸(mm)
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697.0×469.0×17.5
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探測器重量(kg,不含線纜)
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7
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探測器外殼材料
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碳板,鋁合金
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工作環境
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5-35oC,10-75% RH
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存儲環境
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-20-55oC,10-75% RH
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