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手機(jī)充電器、移動(dòng)電源、數(shù)據(jù)線測(cè)試儀使用說(shuō)明書(shū)
LX-610 第二代
更新日期：2013.09.01
主機(jī)LX-610
【簡(jiǎn)介】
手機(jī)已成為最為流行的電子產(chǎn)品，各種外圍產(chǎn)品也幸運(yùn)而生，本公司立志為廣大外設(shè)廠家服務(wù)，適時(shí)推出相應(yīng)的檢測(cè)設(shè)備，為您提高生產(chǎn)效率，為您的品質(zhì)保駕護(hù)航。本產(chǎn)品為一款多功能的手機(jī)充電器檢測(cè)儀器，適用于研發(fā)和批量生產(chǎn)環(huán)節(jié)。
【功能特點(diǎn)】
1、 采用32位ARM高速處理器設(shè)計(jì)。
2、 支持 iPhone5,iPad4,iPad mini,iPod nano6,以及普通USB線（標(biāo)準(zhǔn)方型頭、MiniUSB頭、MicroUSB頭）
3、 支持測(cè)試產(chǎn)品類型：蘋果(iPhone5,iPad4,iPad mini,iPod nano6)/普通手機(jī)/平板電腦的充電器、車載充電器、移動(dòng)電源、充電寶、移動(dòng)電源背夾以及數(shù)據(jù)線、充電線等。
4、 支持各種穩(wěn)壓電源、開(kāi)關(guān)電源適配器、鋰電池等的放電測(cè)試。
5、 準(zhǔn)確測(cè)出充電器輸出能力，并做出判斷。
6、 程控電源有恒流恒壓功能，可以當(dāng)充電器使用，直接給鋰電池包充電。
7、 程控電源可以當(dāng)穩(wěn)壓電源使用，可以設(shè)定輸出電壓和限流，并實(shí)時(shí)顯示輸出電壓和電流。
8、 電子負(fù)載可以對(duì)外做放電測(cè)試，電流范圍0-5A。
9、 可測(cè)試出具體故障點(diǎn)，以便技術(shù)人員對(duì)線進(jìn)行檢修。
10、 各種保護(hù)措施避免儀器使用過(guò)程中受到損壞、防靜電保護(hù)、防短路保護(hù)、USB隔離保護(hù)、直接短路程控電源也不會(huì)損壞。
11、 插入被測(cè)產(chǎn)品自動(dòng)開(kāi)始測(cè)試。
12、 LCD中文顯示屏。
13、 同時(shí)有聲音和LED指示測(cè)試結(jié)果。
14、 設(shè)置的測(cè)試參可掉電保存。
15、 由于USB座使用率很高，容易損壞，所以USB座采用分體設(shè)計(jì)，方便更換。
16、 可以連接電腦，有PC軟件，實(shí)現(xiàn)更多功能，也可單獨(dú)使用。
17、 負(fù)載電流、輸出電壓曲線圖。
18、 通過(guò)PC軟件對(duì)蘋果協(xié)議數(shù)據(jù)抓取。
19、 可以在線升級(jí)，使儀器隨時(shí)擁{zx1}的功能，如果儀器有問(wèn)題，可使用在線升級(jí)經(jīng)松解決，不必返廠。
【檢測(cè)項(xiàng)目】
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檢測(cè)項(xiàng)目
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檢測(cè)內(nèi)容
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蘋果充電器
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蘋果移動(dòng)電源
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蘋果數(shù)據(jù)線
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普通充電器
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普通移動(dòng)電源
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普通數(shù)據(jù)線
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充電電流(儀器對(duì)移動(dòng)電源充電)
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充電電流是否達(dá)標(biāo)
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充電認(rèn)證(儀器接受移動(dòng)電源的認(rèn)證)
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檢測(cè)移動(dòng)電源是否有認(rèn)證動(dòng)作
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空載電壓
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輸出電壓是否達(dá)標(biāo)
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輕負(fù)載電壓
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輸出電壓是否達(dá)標(biāo)
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重負(fù)載電壓
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輸出電壓是否達(dá)標(biāo)
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過(guò)流保護(hù)
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過(guò)流保護(hù)值
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D+
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連接方式、分壓值、電阻值
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D-
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連接方式、分壓值、電阻值
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認(rèn)證芯片
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通信、認(rèn)證
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MOS管
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是否可正常控制
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待機(jī)電壓
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待機(jī)電壓是否正常
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注意：
1、 本儀器只對(duì)上面所列項(xiàng)目進(jìn)行測(cè)試，用戶在使用過(guò)程中可能因參數(shù)設(shè)置不同而產(chǎn)生不一樣的結(jié)果，比如設(shè)置重負(fù)載電壓大于4.5V合格，如果重負(fù)載電壓為4.4V將判為不合格，但該充電器在真機(jī)上可能正常使用。
2、 由于線材分布參數(shù)、阻抗等因素影響，造成數(shù)據(jù)線在真機(jī)使用時(shí)通信速率變慢，或完全不能通信，本儀器并沒(méi)有模擬真機(jī)數(shù)據(jù)通信進(jìn)行測(cè)試（估計(jì)也沒(méi)有儀器能做到這一點(diǎn)），所以不能檢出這種問(wèn)題。
3、 本儀器只對(duì)充電器/數(shù)據(jù)線內(nèi)置芯片做部分協(xié)議的驗(yàn)證，這是因?yàn)樯秸酒桨副姸啵糠N方案協(xié)議、序列號(hào)不盡相同，無(wú)法對(duì)其進(jìn)行完全驗(yàn)證，所以本儀器不適合做研發(fā)使用，只適合工廠檢出芯片在焊接過(guò)程中造成的開(kāi)路、短路等物理性的問(wèn)題，芯片內(nèi)的程序一般在芯片出廠時(shí)已校驗(yàn)。
4、 測(cè)試通過(guò)的充電器/數(shù)據(jù)線在使用過(guò)程中還可能因?yàn)槭褂铆h(huán)境條件惡劣而不能正常使用，比如有的芯片在低溫下無(wú)法工作。
綜上所述，本儀器不可完全替代真機(jī)測(cè)試，為了提高測(cè)試效率，我們認(rèn)為同一批材料的充電器/數(shù)據(jù)線特性是一致的，建議采用本儀器做基礎(chǔ)測(cè)試，再用真機(jī)抽檢。