設備名稱: 二坐標測量機 設備型號: sp2010ct(全新) 產地: AEH 年代: 新 技術狀況: 新 數量: 大量 售價: 議 測量范圍(mm)X: 200 測量范圍(mm)Y: 100 測量范圍(mm)Z: 探測系統: 英國RENISHAW系統 分辨率: 0.5μm 示值誤差(μm): 1.0+L/100 探測誤差(μm): 技術特點：: 穩定的花崗巖底座及立柱，緊湊的十字工作臺，精密光柵測量系統，高品質的光學顯微鏡及CCD圖像傳感器，可編程控制的光學照明系統，配之以功能強大的影像測量及數據處理軟件，使該儀器具有外形尺寸小，整機重量輕，機械系統穩定，安裝調試簡單，功能強大，操作使用方便，應用領域廣泛的優點。